直讀光譜儀

1.光學系統

Q2 ION直讀光譜儀由于Q2的體積相比傳統光譜儀要小很多，為了不造成儀器性能和精度的損失，Q2在光學設計上摒棄了傳統的羅蘭圓結構，而是采用了平面視場CCD光學系統，由于采用的是平面光柵，所以經色散作用后,所有的分析譜線均聚焦于平面CCD檢測器上，其優點是檢測器的每個像素點都得以充分的利用，通過軟件處理和數學解析過程，從而獲取最清晰的分析譜圖。由于儀器體積緊湊，光室焦距只有150mm,為了保證光學分析率，光學系統采用了三光路設計，一光路為紫外光路，波長覆蓋范圍為170-294nm，主要用于P、S等紫外元素的分析；第二光路為可見光光路，波長覆蓋范圍為293-411nm,主要用于分析從Mn到Nb等的常規元素，第三光路為校正光路，波長范圍568nm以上，安裝有氖燈，主要用于像素校正。

2.動態溫度補償技術（AAC）

對于傳統光譜儀而言，為了保證儀器的穩定性，通常需要專門的恒溫系統，以保證光譜儀內部的穩定恒定。因為外界溫度的變化，將會造成光室內部精密結構相對位置的改變，從而影響檢測器信號接收的穩定性，造成儀器的分析數據的波動。對于Q2而言，如果設計專門的恒溫系統，意味著結構重量的大大增加。為此，Q2采用了*的動態溫度補償技術，該技術基于特殊的材料科學，在同等的外界溫度變化下，能夠有效地補償因熱脹冷縮造成的光室焦距變化，從而確保在一定溫度變化范圍內光室內精密部件相對位置的恒定。實驗證明，在10° 至 45° C的溫度范圍內，AAC技術能夠有效地維持儀器的穩定性。

3.非鍍膜CCD檢測器

CCD傳感器是一種新型光電轉換器件，它使用一種高感光度的半導體材料制成，并作為一種新型檢測器被廣泛應用于直讀光譜技術中，但由于紫外光在多晶硅中穿透深度很小，因此通常來說CCD對于紫外波段的響應非常弱，為了分析P,S等紫外元素，需要在CCD上鍍上專門的變頻膜，然而變頻膜的壽命又成為了制約儀器性能的重要因素。為此，Q2了采用全波段CCD檢測器，無需鍍膜即可實現對于紫外波段的響應，從而克服了鍍膜的不利影響。

4.免維護火花臺

考慮到除了面對實驗室環境外，還可能應對較為復雜嚴苛的野外作業環境，Q2專門設計了整體式免維護火花臺技術，避免了傳統光譜儀需要頻繁清潔火花臺和入射透鏡的情況。經優化設計的氬氣流在每次激發過后，均會吹掃入射窗口和激發電極，并將殘余粉塵帶至尾氣收集管中，從而實現火花臺的自清潔功能。

5.新一代操作平臺 — 元素分析包

Q2 ION 采用觸摸屏控制平臺元素分析包進行控制，該軟件已經在Q4 MOBIL上使用，現在該軟件已經開發在實驗室光譜儀上使用，將很多移動式光譜儀的性能帶至實驗室。分析軟件包有著強大的功能，Linux控制器和SQL數據庫兩大專業組件保證了軟件優越的穩定性和性能。

6.易操作

使用工控觸摸式顯示屏控制設備，將傳統的工作流程無縫集成到用戶界面，同時軟件可以提供不同用戶的不同需求所需要的所有功能，這樣可以大大簡化儀器操作。

7.分析界面清晰明了

分析界面提供的所有信息一目了然。除了單點值，平均值，標準偏差和相對 標準偏差均可顯示。單位默認設置（%，ppm）和小數點位數等均可根據要求進行修改。

8.個性化報告

報告生成器可以進行個性化設置，包括公司標志等，報告打印可以通過您的指尖傳送至打印機或者轉化成PDF！檢測過程中的各個過程均在顯示屏上顯示。在PMI界面，軟件會從可編輯數據庫中匹配的牌號，有偏差的元素使用彩色進行高亮顯示。

9.Q2 ION直讀光譜儀技術參數

光學系統

• 非鍍膜CCD檢測器，具有低的暗電流

• 平面光柵

• 波長覆蓋范圍：170-685nm

• 分辨率：30pm

• 氬氣驅氣以確保光通量。

• 譜圖解析技術

• 動態溫度補償技術，確保在10至45度的外界溫度下具有的穩定性

分析方法組件

• 可應用于各種不同基體

• 覆蓋所有主要元素及合金類型

激發源

• 免維護，兩相PWM激發源

• 頻率50-1000Hz

火花臺

• 免維護

• 檢測期間氬氣消耗2.51/mi

元素分析軟件

• 直觀的觸屏操作軟件可以讓用戶簡單方便的進行常規操作

• 用戶分級權限

• 定性和定量分析

• 可用于

• 材料可靠性鑒定

• 快速分揀

• 元素分析

• 元素分析軟件包含

• 分析數據庫及辦公軟件接口

• 操作軟件

電源

• 100 to 240 V (50/60 Hz)

• 檢測期間200W，待機時50W

• 16A慢熔保險絲或25A慢熔保險絲

尺寸&重量

• 長440 mm / 17英寸

• 高220 mm / 8.5英寸

• 寬390 mm / 15英寸

• 重量19 kg